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场发射透射电子显微镜

设备名称

场发射透射电子显微镜   TEM

收费标准

TEM形貌

400元/

HRTEM

450元/

TEM电子衍射

500元/小时

规格/型号

JEOL*/JEM-2100F

性能指标

1.加速电压:200kv; 2.束斑尺寸:小于0.5nm 3.点分辨率:0.23nm; 4.线分辨率:0.102nm; 5.扫描透射分辨率:0.20nm; 6.倾斜角 25°。

主要应用

可对金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等材料进行微观形貌、晶体结构、晶体缺陷、晶粒晶向及成份分析。 1.样品的普通形貌观察; 2.晶体材料的高分辨晶格条纹分析; 3.晶体材料的电子衍射分析; 4.样品的成分分析:能谱和STEM; 5.合金的形貌和成分分析:HADDF、NBD; 6.双倾杆:可以对晶体的其中一个面进行晶体结构分析。

样品要求

样品不得具有磁性,并且不易被磁化;透射电镜能够观察200nm以下的样品;对于粉末和液体样品,要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥,能够区分正反面;对于块体样品,要求样品大小为直径3mm的圆,厚度为200nm以下;高分辨样品要求厚度在10nm以下。

仪器说明

JEM-2100F配备超高分辨极靴,点分辨率0.20纳米。利用透射电镜明场、暗场、电子衍射和高分辨成像技术分析各种无机、有机及复合材料的精细结构,同时配有STEM、双倾杆和能谱附件分析样品的成分及分布情况,通过CCD数字成像系统记录样品的各种信息。

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