设备名称 |
场发射透射电子显微镜 (TEM) |
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收费标准 |
TEM形貌 |
400元/样 |
HRTEM |
450元/样 |
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TEM电子衍射 |
500元/小时 |
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规格/型号 |
JEOL*/JEM-2100F |
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性能指标 |
1.加速电压:200kv; 2.束斑尺寸:小于0.5nm 3.点分辨率:0.23nm; 4.线分辨率:0.102nm; 5.扫描透射分辨率:0.20nm; 6.倾斜角 25°。 |
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主要应用 |
可对金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等材料进行微观形貌、晶体结构、晶体缺陷、晶粒晶向及成份分析。 1.样品的普通形貌观察; 2.晶体材料的高分辨晶格条纹分析; 3.晶体材料的电子衍射分析; 4.样品的成分分析:能谱和STEM; 5.合金的形貌和成分分析:HADDF、NBD; 6.双倾杆:可以对晶体的其中一个面进行晶体结构分析。 |
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样品要求 |
样品不得具有磁性,并且不易被磁化;透射电镜能够观察200nm以下的样品;对于粉末和液体样品,要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥,能够区分正反面;对于块体样品,要求样品大小为直径3mm的圆,厚度为200nm以下;高分辨样品要求厚度在10nm以下。 |
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仪器说明 |
JEM-2100F配备超高分辨极靴,点分辨率0.20纳米。利用透射电镜明场、暗场、电子衍射和高分辨成像技术分析各种无机、有机及复合材料的精细结构,同时配有STEM、双倾杆和能谱附件分析样品的成分及分布情况,通过CCD数字成像系统记录样品的各种信息。 |
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